高低溫分析晶圓測(cè)試探針臺(tái)
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-05-11 14:26
品 牌:其他型 號(hào):LS-WPS150/200/300-TEC
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1433
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產(chǎn)品特性1. 非真空環(huán)境下的低溫測(cè)試,可達(dá)-100℃ 2. 大手柄驅(qū)動(dòng),操作舒適,無(wú)回程差設(shè)計(jì)3. 兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng) 4. 0.2微米以上芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測(cè)試5. 高等院校/研究所/公司實(shí)驗(yàn)室使用 6. VCSEL/LD/LED/PD的光功率/光譜測(cè)試7. 可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 8. VCSEL/LD/LED/PD的IV/CV特性測(cè)試9. 精密絲桿傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng) 10. 器件的高頻特性測(cè)試(至300GHz頻率)