探針臺用防震桌
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-05-12 14:08
品 牌：其他型 號：CBPT-G
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2608
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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配送方式：
上海自提或三方快遞
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產(chǎn)品參數(shù)
探針臺用防震桌技術(shù)參數(shù)：
可測片型：3 inch、 4 inch
測試硅片單元尺寸：20—200 mil
定位精度：≤ ±0.01mm/110mm
自動對準(zhǔn)精度：±0.01mm
誤測率：≤ 1 ‰
全自動對位時(shí)間：≤ 15 s
測試速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步進(jìn)分辨率：0.001
Z向行程：0～5mm 可調(diào)
承片臺轉(zhuǎn)角θ調(diào)節(jié)范圍：±20o
平臺表面粗糙度1?2um
平面度0.02 ~ 0.05 mm/m2
固有頻率6 ~ 8 Hz
型號：
型號 | 大小(mm) | 支撐腿數(shù) | 孔距(mm) |
CBPT-G06-06 | 600×600×800 | 4 | 25 |
CBPT-G075-075 | 750×750×800 | 4 | 25 |
CBPT-G09-06 | 900×600×800 | 4 | 25 |
CBPT-G10-07 | 1000×700×800 | 4 | 25 |
CBPT-G10-08 | 1000×800×800 | 4 | 25 |
CBPT-G12-08 | 1200×800×800 | 4 | 25 |
CBPT-G15-09 | 1500×900×800 | 4 | 25 |
CBPT-G15-10 | 1500×1000×800 | 4 | 25 |
CBPT-G16-09 | 1600×900×800 | 4 | 25 |
CBPT-G18-10 | 1800×1000×800 | 4 | 25 |
CBPT-G20-10 | 2000×1000×800 | 4 | 25 |
CBPT-G20-12 | 2000×1200×800 | 4 | 25 |
CBPT-G24-12 | 2400×1200×800 | 4 | 25 |
CBPT-G30-10 | 3000×1000×800 | 4 | 50 |
CBPT-G30-12 | 3000×1200×800 | 4 | 50 |
CBPT-G30-15 | 3000×1500×800 | 4 | 50 |
CBPT-G35-12 | 3500×1200×800 | 6 | 50 |
CBPT-G35-15 | 3500×1500×800 | 6 | 50 |
CBPT-G40-15 | 4000×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G42-15 | 4200×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G48-15 | 4800×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G54-15 | 5400×1500×800 | 6 | 100 |
CBPT-G60-15 | 6000×1500×800 | 6 | 100 |
產(chǎn)品介紹
CBTZ-3100Z型自動對位探針臺能
對晶片實(shí)現(xiàn)自動對位測試，操作簡單，
快捷，測試精度高，具有MAP顯示功
能。它與測試儀連接后，能自動完成
對各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能
測試 。 |
|
操作方式 CBTZ-3100Z型自動對位探針臺
提供了清晰直觀的觸屏操作頁面，
手觸點(diǎn)擊即可完成對晶片的自動對
位測試。
機(jī)器軟件的操作界面 | 除此之外還提供了更加簡潔 方 便的小鍵盤操作方式，操作者可依據(jù) 個(gè)人偏好和習(xí)慣選擇任意種操作 。
功能小鍵盤 |
機(jī)器功能 具有自動掃描對位功能，對位精度
高、速速快，Windows7界面，動態(tài)map
圖顯示測試過程。
| 具有圓形測試，范圍重測，探邊
測試，范圍打點(diǎn)，回收測試，矩形
測試和脫機(jī)打點(diǎn)多種測試功能。
|
具有X、Y、Z三軸運(yùn)動結(jié)構(gòu)，操作軟
件能對垂直度、平面度進(jìn)行精度補(bǔ)償，保
證機(jī)器的控制精度和工作的穩(wěn)定性。
| 具有實(shí)時(shí)打點(diǎn)、脫機(jī)打點(diǎn)和滯
后打點(diǎn)功能。新型打點(diǎn)器，使用時(shí)
間長達(dá)3天，不滴墨，省去60%的操作時(shí)間。
|
具有Z軸行程分段運(yùn)動功能，其
分為基本高度、接觸高度、接觸緩沖、
過沖高度和折回高度，并且具有探邊
功能，防止測試過程中探針對芯片的
劃傷和探針與芯片的接觸不良。
| 測試針痕比例圖片（反光白點(diǎn)為針痕）
多個(gè)芯粒 |
特點(diǎn)：隔振支撐采用高***復(fù)合材料隔振，隔振性能接近充氣平臺，維護(hù)調(diào)整工作量少，結(jié)構(gòu)穩(wěn)固。
應(yīng)用范圍：環(huán)境振動較好,且要求垂向位移變化小的實(shí)驗(yàn)。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
