CGO-4高低溫真空探針臺
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-05-12 14:37
品 牌:其他型 號:CGO-4
狀 態(tài):正常點擊量:2524
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CINDBEST CGO-4 | 2"~6" 高低溫真空探針臺測試系統(tǒng)
特點/應用: 2至6英寸樣品臺 高真空腔體 防輻射屏設計,樣品溫度均勻性更好 77K-675K高低溫環(huán)境 兼容IV/CV/RF測試 外置多探針臂,移動行程大 經濟實用,可無縫升*** |
產品參數(shù)
CGO-4高低溫真空探針臺腔體規(guī)格:
型號 | CGO-2/CGO-4/CGO-6 |
樣品臺尺寸 | 2英寸/4英寸/6英寸 |
樣品固定 | 彈簧壓片 |
觀察窗口 | 2英寸/4英寸/6英寸 |
真空度 | 10-6torr |
探針臂接口 | 4~6個探針臂接口 |
其他接口 | 電信接口、真空接口、光纖接口、冷源接口 |
制冷方式 | 液氮/液氦/制冷機 |
溫度范圍 | 77K到573K/4.5K到573K |
溫控精度 | 0.1K/0.01K/0.001K |
穩(wěn)定性 | ±1K/±0.1K/±0.01K |
外形 | 880mm長*880mm寬*600mm高/980mm長*980mm寬*600mm高 |
重量 | 約100千克/120千克 |
產品介紹
極低溫測試:
因為晶圓在低溫大氣環(huán)境測試時,空氣中的水汽會凝結在晶圓上,會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。
高溫無氧化測試:
當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時,氧化現(xiàn)象會越來越明顯,并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差,物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。
晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換,因為熱脹冷縮現(xiàn)象,定位好的探針與器件電極間會有相對位移,這時需要針座的重新定位,針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。
光學系統(tǒng):
顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 |
放大倍率 | 16X-200X/20X-4000X |
移動行程 | 水平360度旋轉,Z軸行程50.8mm |
光源 | 外置LED環(huán)形光源/同軸光源 |
CCD | 200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
探針臂:
X-Y-Z移動行程 | 50mm*50mm*50mm |
結構 | 外置探針臂,真空波紋管結構 |
移動精度 | 10微米/1微米 |
線纜 | 同軸線/三軸線/射頻線 |
漏電精度 | 10pA/100fA/10fA |
固定探針 | 彈簧固定/管狀固定 |
接頭類型 | BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子 |
頻率支持 | DC-67GHZ |
針尖直徑 | 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
其他組件:
真空組件 | 分子泵組/機械泵/離子泵 |
冷源組件 | 50L/100L液氮罐/液氦罐/制冷機 |
可選附件
超高溫配件 |
顯示器 |
轉接頭 |
射頻測試配件 |
屏蔽箱 |
光學平臺 |
鍍金卡盤 |
光電測試配件 |
高壓測試配件 |
分子泵組 |
激光系統(tǒng) |
氣敏測試配件 |