激光平面干涉儀 接觸式干涉儀 數(shù)字立式干涉儀
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-01-19 09:16
品 牌:型 號:BW17-J4
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1、激光平面干涉儀的主要用途和特點 BW17-J4型激光平面干涉儀是***種使用方便的光學精密計量儀器,主要用于精密測量光學平面度。儀器配有激光光源(波長為6328A)。對于干涉條紋可目視、測量讀數(shù)、照相留存記錄。工作時對防震要求***般。該儀器可應(yīng)用于光學車間、實驗室、計量室。如需配購相關(guān)的必要附件,可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性,光學鍍膜面或金屬塊規(guī)表面的平面度,90o棱角的直角誤差及角錐棱鏡單角和綜合誤差。 2、激光平面干涉儀的工作原理 本儀器工作基于雙光束等厚干涉原理。根據(jù)近代光學的研究結(jié)果,光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的 波動性的特性。 3、儀器技術(shù)參數(shù): 1、標準平面(A面),不鍍膜。 工作直徑:D1=Φ146mm 不平度小于0.02μm(λ/30)。 2、第二標準平面(B面),不鍍膜。 工作直徑:D2=Φ140mm 不平度小于0.03μm(λ/20)。 3、準直系統(tǒng):孔徑F/2.8, 工作直徑:D1=Φ146mm 焦距:f=400mm. 4、測微目鏡:焦距f=16.7mm,放大倍數(shù)β=15X,視場角2w=40o 成像物鏡:I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37 5、干涉室尺寸:深260*寬300*190mm。 6、光源規(guī)格:激光ZN18(He-Ne). 7、儀器的外形尺寸:長*寬*高 350*400*720mm。 8、儀器重量:100公斤。