TP200測(cè)頭圖|TP200B模塊測(cè)頭|雷尼紹總代理
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TP200測(cè)頭圖|TP200B模塊測(cè)頭|雷尼紹總代理Renishaw雷尼紹中***代理
趙先生 137--0171
TP200
具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭,它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu),比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長、精度更高。

TP200系統(tǒng)組件包括:
- TP200或TP200B測(cè)頭本體(TP200B為另***款,允許更大振動(dòng)公差)
- TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定越程測(cè)力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)或LF(低測(cè)力)
- PI 200-3測(cè)頭接口
- SCR200測(cè)針交換架
還有***種EO模塊(長過行程),過行程測(cè)力與SF相同,但工作范圍更大,并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。
特性與優(yōu)點(diǎn)
- 應(yīng)變片技術(shù)具有無可比擬的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量
- 零復(fù)位誤差
- 無各向同性影響
- 六向測(cè)量能力
- 測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm(GF測(cè)針)
- 測(cè)頭模塊快速交換,無需重新標(biāo)定測(cè)尖
- 壽命 >1000萬次觸發(fā)
TP200/TP200B測(cè)頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和精確的3D空間形狀測(cè)量精度,即使配用長測(cè)針時(shí)也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米***的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
請(qǐng)注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測(cè)針。
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 | 與TP200***樣,但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。 |
感應(yīng)方向 | 六軸:±X、±Y、±Z | 六軸:±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2σ µm) | 電平觸發(fā)1:0.40 µm 電平觸發(fā)2:0.50 µm | 電平觸發(fā)1:0.40 µm 電平觸發(fā)2:0.50 µm |
XY(2D)輪廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1: ±0.80 µm 電平觸發(fā)2:±0.90 µm | 電平觸發(fā)1:±1 µm 電平觸發(fā)2:±1.2 µm |
XYZ (3D) 輪廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1:±1 µm 電平觸發(fā)2:±1.40 µm | 電平觸發(fā)1:±2.50 µm 電平觸發(fā)2:±4 µm |
測(cè)針交換的重復(fù)性 | SCR200:±0.50 µm() 手動(dòng):±1 µm() | SCR200:±0.50 µm() 手動(dòng):±1 µm() |
測(cè)力(測(cè)尖) | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N |
越程測(cè)力(位移為0.50 mm時(shí)) | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N |
重量(測(cè)頭傳感器和模塊) | 22 g | 22 g |
*長加長桿(如配在PH10 PLUS系列測(cè)座上) | 300 mm | 300 mm |
推薦的測(cè)針長度(M2測(cè)針系列) | SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測(cè)針模塊交換架 | 自動(dòng):SCR200 手動(dòng):MSR1 | 自動(dòng):SCR200 手動(dòng):MSR1 |
測(cè)針系列 | M2 | M2 |
TP200測(cè)針模塊
測(cè)針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上,具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭過行程保護(hù)功能。
有三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的越程測(cè)力。
模塊 | SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力) | LF(低測(cè)力) | EO(長過行程) |
應(yīng)用程序 | ***般使用。 | 小直徑測(cè)球或必須使用*小測(cè)力的場(chǎng)合。 | 額外過行程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
注釋 | 測(cè)針*長可達(dá)100 mm,測(cè)球直徑 > 1 mm。 | 測(cè)球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測(cè)力相同。 測(cè)頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
SCR200交換架

SCR200可以高速自動(dòng)交換多達(dá)六個(gè)TP200測(cè)針模塊。SCR200由獨(dú)立的測(cè)頭接口 — PI 200-3供電,并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件,每***種套件都包含***個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。
TP200測(cè)頭圖|TP200B模塊測(cè)頭|雷尼紹總代理
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