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ESS03 波長掃描時式 多入射角光譜橢偏儀

價  格：詢價

產(chǎn)  地：更新時間：2021-01-18 16:45

品  牌：型  號：ESS03

狀  態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1540

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ES0S3是針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量領(lǐng)域推出的波長掃描式高精度多入射角光譜橢偏儀，此系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見、近紅外、到遠(yuǎn)紅外。
ESS03采用寬光譜光源結(jié)合掃描單色儀的方式實現(xiàn)高光譜分辨的橢偏測量。
ESS03系列多入射角光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，膜層厚度、表面微粗糙度等）和光學(xué)參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k、復(fù)介電常數(shù)ε等），也可用于測量塊狀材料的光學(xué)參數(shù)。
ESS03系列多入射角光譜橢偏儀尤其適合科研中的新品研發(fā)。

技術(shù)特點(diǎn)：

  • 極寬的光譜范圍

    采用寬光譜光源、寬光譜掃描德系統(tǒng)光學(xué)設(shè)計，保證了儀器在極寬的光譜范圍下都具有高準(zhǔn)確度，非常適合于對光譜范圍要求極其嚴(yán)格的場合。


產(chǎn)品參數(shù)


產(chǎn)品介紹




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