SONOSCAN Gen5 C-SAM超聲波掃描顯微鏡
Sonoscan在聲學(xué)顯微成像（AMI）技術(shù)應(yīng)用于內(nèi)部品質(zhì)無損檢測與分析方面，***直是該行業(yè)的權(quán)威。Sonoscan C-sam超聲波掃描顯微鏡產(chǎn)品系統(tǒng)被視為精確基準(zhǔn)。Sonoscan傳感器專為AMI分析而開發(fā)，可以提供的分辨率和穿透性。Sonoscan提供*多元化的超高頻傳感器， 有標(biāo)準(zhǔn)件也可根據(jù)您需要特別定制。Sonoscan所有透鏡都經(jīng)過傳感器校準(zhǔn)來驗(yàn)證分辨率，以確保性能*佳。Sonoscan超高頻傳感器可以提供高達(dá)7微米的分辨率。

產(chǎn)品簡介：
從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間，Sonoscan的聲學(xué)顯微鏡儀器和技術(shù)可以幫助您生產(chǎn)更高質(zhì)量的產(chǎn)品。Sonoscan儀器有著極高的技術(shù)含量，并且提供***流的客戶服務(wù)和支持。Sonoscan超聲波掃描顯微鏡提供多種成像模式，操作員可以根據(jù)樣品內(nèi)部取向特征獲得有關(guān)檢驗(yàn)樣品的*佳透視圖。此外，通過利用產(chǎn)品專有功能，Sonoscan可以提供*佳的圖像、的效率和*理想的結(jié)果。

SONOSCAN C-SAM超聲波掃描顯微鏡通過樣品在液晶(Liquid Cristal)和熒光微型熱成像（FMI）的圖像,分析產(chǎn)品內(nèi)部的失效情況。
產(chǎn)品檢測：1.材料內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒，沉淀物；2.內(nèi)部裂紋；3.分層缺陷；4.空洞、氣泡。

產(chǎn)品應(yīng)用:Gen5 C-SAM型聲學(xué)顯微鏡是新***代聲學(xué)顯微成像（ AMI ）的創(chuàng)新。它具有尖端技術(shù)，的功能，并改善了人機(jī)工程學(xué)， 將聲學(xué)顯微成像提高到新高度。Gen5具有廣泛的用途。無論是倒裝芯片或晶圓的無損失效分析，工藝程序，研發(fā)，高可靠性軍事應(yīng)用，或者篩選智能卡， Gen5都可以滿足您所有的需求。

Gen5 超聲波掃描顯微鏡主要特征：
虛擬二次掃描模式：收集并以數(shù)字形式儲存廣泛的聲學(xué)數(shù)據(jù) 從而可以執(zhí)行完整的樣品分析，即使在沒有可用樣品的情況下，也能進(jìn)行分析。
TurboSpeed在高頻率下可提供較快成像速度，
在高像素密度下，圖像采集速度可增加2.5X。
數(shù)字圖像分析器 (DIA) 采用算法，
量化接口數(shù)據(jù)，并幫助建立精確和自動的接受/拒收標(biāo)準(zhǔn)。
ESD安全配備清潔室。
開放式掃描區(qū)，方便裝卸測試樣品，
能夠檢測JEDEC的2托盤或者300mm晶圓。
慣性平穩(wěn)掃描裝置不僅能減少振動
并且能夠確保*佳的掃描結(jié)果
多語言操作系統(tǒng)和視覺聲學(xué)接口。