FEI Apreo 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:01
品 牌:型 號(hào):Apreo
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1841
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Apreo 復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái),并且不會(huì)降低磁性樣品性能。
Apreo 受益于獨(dú)特的透鏡內(nèi)背散射探測(cè),這種探測(cè)提供卓越的材料對(duì)比度,即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復(fù)合透鏡通過(guò)能量過(guò)濾進(jìn)***步提高了對(duì)比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過(guò)濾??蛇x低真空模式,現(xiàn)在的zui大樣品倉(cāng)壓力為 500 Pa,可以對(duì)要求zui嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。
通過(guò)這些優(yōu)勢(shì)(包括復(fù)合末***透鏡、高***探測(cè)和靈活樣品處理),Apreo 可提供出色的性能和多功能性,幫助您應(yīng)對(duì)未來(lái)的研究難題。



