韓國科美K-MAC 薄膜測厚儀(涂層)ST2000-DLXn
價 格:詢價
產(chǎn) 地:韓國更新時間:2020-10-23 10:52
品 牌:科美儀器型 號:ST2000-DLXn
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1705
400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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配送方式:
上海自提或三方快遞
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測量迅速,操作簡單
非接觸式,非破壞方式
***的重復(fù)性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能
可測量多達(dá)3層
可背面反射
產(chǎn)品參數(shù)
1、尺寸 :190 x 265 x 316 mm
2、重量 :12Kg
3、類型 :手動的
4、測量樣本大小 :≤ 4"
5、測量方法 :非接觸式
6、測量原理 :反射計
7、活動范圍 :150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離)
8、測量范圍 :200?~ 35?(根據(jù)膜的類型)
9、光斑尺寸 :20? 典型值
10、測量速度 :1~2 sec./site
11、應(yīng)用領(lǐng)域 :a)聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
b)電解質(zhì): SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半導(dǎo)體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、選擇 :參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探頭類型 :三目探頭
14、nosepiece :Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明類型 :12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer