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Micro-scratch 微米劃痕測(cè)試儀

價(jià)  格：詢價(jià)

產(chǎn)  地：美國更新時(shí)間：2020-10-30 13:14

品  牌：Nanovea型  號(hào)：Micro-scratch

狀  態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2548

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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

聯(lián) 系 人： 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

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配送方式： 上海自提或三方快遞

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符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D7187, ASTM D7027, ASTM D1624, ASTM C171, ISO 20502, ISO 1518應(yīng)用范圍：MEMS、半導(dǎo)體、光學(xué)部件、醫(yī)學(xué)工程、觸摸屏及涂層、汽車行業(yè)、新材料研發(fā)、建筑裝潢涂層
 
技術(shù)參數(shù)：載荷范圍0.05-40N載荷分辨率(噪聲條件)0.75mN（可選0.5mN）***大摩擦力40N 摩擦力分辨率（噪聲條件）0.75mN（可選0.5mN）穿透深度（非接觸傳感器）300μm 理論深度分辨率（非接觸傳感器）0.2nm噪聲條件下深度分辨率（非接觸傳感器）3nmZ軸穿透深度（標(biāo)準(zhǔn)/緊湊）50 / 25mmZ軸穿透深度分辨率2.5nm 劃痕長度（帶視覺檢查） 25mm / 90mm 劃痕長度（無視覺檢查）25mm /150mm劃痕速度 0-240mm/min
 
其他信息：主要用于界定涂層薄膜與基底的結(jié)合強(qiáng)度、涂層失效形式，薄膜的抗劃痕強(qiáng)度與基底的變形尺度等。 產(chǎn)品特點(diǎn)：完全符合ASTM D7187，D7027，D1624，C171，ISO 20502，ISO 1518光學(xué)顯微鏡自動(dòng)觀察 快速的壓電陶瓷反饋控制加載載荷與劃痕深度的實(shí)時(shí)測(cè)量實(shí)時(shí)三維表面輪廓測(cè)量可測(cè)量聲發(fā)射、摩擦力-載荷/位移曲線等也可以進(jìn)行壓痕測(cè)試 微米劃痕測(cè)試模塊可以與緊湊型工作臺(tái)或者標(biāo)準(zhǔn)型工作臺(tái)配用：



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