A.比表面積及孔徑分布分析儀真空系統(tǒng)

1)獨(dú)創(chuàng)的***體化集裝式管路系統(tǒng),采用進(jìn)口集裝管路,顯著減少管路連接點(diǎn),大大降低漏氣率,提高極限真空度.
2)模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),***體式集裝管路,需人工進(jìn)行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶需求按需配置及后期功能擴(kuò)展,有利于維修更換.
3)采用中德合資的真空泵,噪音小,運(yùn)行穩(wěn)定,防油返功能卓越,極限真空度高,可達(dá)4x10－2Pa (3x10－4Torr)

B.比表面積及孔徑分布分析儀控制系統(tǒng)

1)采用廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),抗干擾能力強(qiáng),穩(wěn)定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便;
2)獨(dú)特設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結(jié)構(gòu),有效防止樣品處理過程中產(chǎn)生的雜質(zhì)對(duì)測(cè)試管路的污染.

C.比表面積及孔徑分布分析儀提高測(cè)試精度措施

1)采用與同類進(jìn)口產(chǎn)品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測(cè)量精度為相應(yīng)讀數(shù)的0.15％,遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于0.15％的全量程精度(FS)傳感器;
2)與***外同類產(chǎn)品類似,采用0－10Torr和0－2000Torr雙壓力傳感器,對(duì)測(cè)試范圍內(nèi)的壓力采用分段測(cè)量,大大降低了低真空下的測(cè)量誤差,0－10Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠(yuǎn)高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(jì)(***般誤差為10%-15％);
3)獨(dú)創(chuàng)的***體化集裝式管路系統(tǒng),采用進(jìn)口集裝管路,顯著減少管路連接點(diǎn),大大減少死體積空間,有利于降低測(cè)量誤差;
4)獨(dú)創(chuàng)的步進(jìn)式液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差;
5)獨(dú)特設(shè)計(jì)的抽氣及進(jìn)氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進(jìn)氣過程中的飛濺,確保測(cè)試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無損失,保護(hù)高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導(dǎo)致的零點(diǎn)和線性漂移.

D.比表面積及孔徑分布分析儀數(shù)據(jù)采集及處理

1)采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的485通訊模式,有利于設(shè)備擴(kuò)展和互連,可方便轉(zhuǎn)換為所需的RS232和USB通訊模式;
2)多種理論計(jì)算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶提供全方位的材料分析方案;強(qiáng)大的測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理.

測(cè)試方法及功能:真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測(cè)定,BJH總孔體積及孔徑分布分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),Langmuir法比表面積測(cè)定,t－plot圖法外比表面積測(cè)定
測(cè)定范圍:0.01(m2/g)--至無上限(比表面積);0.35nm-400nm(孔徑)
測(cè)量精度:重復(fù)性誤差小于1.5%
真空系統(tǒng):獨(dú)創(chuàng)的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分布分析的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命.
液位控制:獨(dú)創(chuàng)的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差.
控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命.
樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理
壓力測(cè)量:采用壓力分段測(cè)量的進(jìn)口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)
壓力精度:進(jìn)口硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15％,優(yōu)于全量程的0.15％,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15％)
分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10－6－0.995
極限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr)
樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等
測(cè)試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)
數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng).
數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表.

V-Sorb 2800比表面積及孔徑分布分析儀是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑測(cè)量?jī)x器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理.相比***內(nèi)同類產(chǎn)品,多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和***致性進(jìn)***步提高,測(cè)試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到***際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平,部分功能超越***外產(chǎn)品.

全自動(dòng)容量靜態(tài)法比表面積及孔徑分布分析儀是粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑分布的檢測(cè)分析儀器，可用于電池材料比表面積分析，催化劑材料比表面積及孔徑分布分析，炭黑總表面積及外表面積分析等，廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)