類型：

Toshiba TCD1304DG 線陣CCD

探測范圍：

300 – 1100 nm

像素：

3648像素

像素尺寸：

8 um x 200 um

像素阱深：

~100,000 electrons

靈敏度：

130 photons/count at 400 nm; 60 photons/count at 600 nm

設計：

f/4, 對稱交叉光路

焦距：

100 mm

入射狹縫：

5, 10, 25, 50, 100和200 nm，或者無狹縫

光柵選擇：

從紫外至近紅外光柵

EX光柵：

提供200-1100 nm寬譜段范圍

探測器聚光鏡：

可選購

消二級濾光片：

OFLV-200-1100

其他濾光片：

長波通濾光片

光纖接口：

SMA905

波長范圍：

依賴光柵選擇

光學分辨率：

~0.035-8.4 nm FWHM

信噪比：

300:1

A/D分辨率：

16位

暗背景：

12 RMS counts

靈敏度：

2 x 10^8 (系統(tǒng)); 單次采集1300:1

積分時間：

1毫秒至2秒

雜散光：

< 0.05% at 600 nm; < 0.10% at 435 nm

矯正線性度：

>99.8%

2、光學分辨率可至~0.035nm (FWHM)，分辨率依賴于光柵刻線和狹縫寬度

3、多種光柵選擇，可對客戶需要的波段進行增強

4、PC4000光纖光譜儀擁有電子快門，防止探測器飽和

5、具有寬譜段技術，PC4000 EX全波段光纖光譜儀探測范圍可達200-1100 nm

6、可選狹縫5, 10, 25, 50, 100和200 um，狹縫寬度會影響靈敏度和光學分辨率

7、可選的高階濾光片用于濾除二階及三階光譜，PC4000 EX全波段光纖光譜儀采用EX可變高階濾光片

EX技術是聞奕光電的核心技術之***，包括了EX全波段濾光片技術和EX可變波長閃耀光柵技術。
EX技術可以將光譜儀***次采譜波段拓展至深紫外190 nm至近紅外1100 nm波段。

低雜散光技術能夠有效地降低光譜儀內部的雜散光，適用于高精度的吸收、透過、反射和吸收度測量。聞奕觀點的各款光譜儀產品均可以配置低雜散光技術

測量光源：DH2000，紫外可見近紅外氘-鹵素光源。(195nm-1100nm)