1.高亮度場發(fā)射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側(cè)插測角臺，更容易傾轉(zhuǎn)、旋轉(zhuǎn)、加熱和冷凍，無機械飄移。
4.穩(wěn)定性好、操作簡便。
5.微處理器和PC兩套系統(tǒng)控制，防止死機。

1.點分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm
 

JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。
利用200kV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。
高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實現(xiàn)各種分析功能。
JEM-2100F***新設(shè)計的側(cè)插式側(cè)角臺，在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。
SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現(xiàn)***體化控制。