偏光熔點(diǎn)儀XPR-500C
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:上海更新時(shí)間:2020-10-29 17:23
品 牌:蔡康光學(xué)型 號:XPR-500C
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1471
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本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域,適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結(jié)晶動(dòng)力學(xué)的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點(diǎn)測定儀XPR-500系統(tǒng)匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學(xué)、自動(dòng)控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當(dāng)前***技術(shù),多年研究開發(fā)的結(jié)果,在***內(nèi)享有絕對***.本儀器的具有可擴(kuò)展性,可以接計(jì)算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。